先进的测试理念：

同一个测试平台可以同时进行功率循环和热测试，任何与老化降级相关的热效应都可以在不移动待测器件的情况下，通过结构函数在线监测，与传统的老综设备相比更加节省时间，能获得完整的失效数据。

先进的测试技术：

使用世界领先的热测试设备T3Ster的热瞬态测试技术及结构函数分析方法。

测试范围广：

可测试MOSFET,IGBT以及二极管等器件。

简单易用的触摸屏界面：

Power Tester在功率循环测试期间能够记住包括电流、电压、结构函数等信息在内的参数。

多种功率循环模式：

Power Tester包含了恒定时间TonuToff,恒定电流,恒定壳温变化ΔTC，恒定结温变化ΔATJ以及恒定功率变化ΔP等模式

实时结构函数诊断：

方便用户快速地获得循环过程中的缺陷，对应的循环数以及失效原因等。

无需功率循环后的实验室检测及破坏性失效分析：

无需再使用传统的x射线、超声波或者其他的破坏性方法来进行失效分析。

测试操作简便：

用户只需根据系统提示将器件对应管脚连接到设备,无需了解复杂的测试电路。

帮助用户设计更加可靠的电子封装产品：

Power Testert提供的特性化测试数据，可以直接导出给热仿真软件FIOTHERM，利用实测结果来实现模型自动校准功能，帮助用户得到精确的，符合实际的仿真模型。

预估器件寿命：

帮助用户获得功率电子器件在真实应用条件下的使用寿命。