• 高性能全功能型 AFM

• 为 Raman, TERS and SNOM 提供了顶部、

侧向和底部入射光路

• 灵活的光路设计提供了任意的激发和收集组合

• AFM 激光、探针和光电二极管全自动校准

• AFM 系统可以更便捷的更换不同波长的激光器

• 可以更简单并精确的更换物镜

• 模块化设计，更容易提供升级服务

自从 1998 年 NT-MDT 就成功地实现了 AFM 和光

学显微镜、光谱仪的集成。超过 30 种基础的和高

级的，包括 HybriD ModeTM AFM 模式，可以为样

品表面物理特性提供更广泛的信息。

AFM 和共聚焦 Raman/荧光光谱仪的集成，为样品

的研究提供了更大范围的附加信息。

同时测量精确的同一样品区域的 AFM 和 Raman 形

貌，给样品的物理特性（ AFM ）和化学成分

（Raman）的研究提供了更丰富的信息。

为了研究针尖增强拉曼（TERS），NTEGRA Spectra

II 实现了光谱仪/显微镜在纳米尺度的分辨率。特

制的 AFM 探针可以使 TERS 信号增强，并且使光

以纳米尺度聚焦到针尖区域。这种特制的 AFM 探

针充当了一个纳米光源，使光学成像的分辨率突

破了光的衍射极限，达到 10nm。

近场光学显微镜（SNOM）以另外一种方式获得光

学活性样品的光学和光谱图像，其极限分辨率取

决于探针的孔径（约 100nm）