近场和其他探针

近场光纤；近场打孔的悬臂；所有种类的AFM

悬臂；尖锐的金属丝

支持的标准模式：

近场模式：透射模式；收集模式；反射模式

AFM

模式：>30种模式

（MFM,SKM,SCM,SRI,LFM,EFM,SThM,UFM,PFM,

AFAM和其他模式）

探测光学信号

激光强度；荧光强度；光谱学（每一个点的全

谱）

激发/探测波长范围

400-1700nm; 在很宽的范围内客户制定方案

先进的近场模式和技术：

散射SNOM(s-SNOM);无孔径SNOM（a

SNOM）;针尖增强拉曼散射（TERS）;针尖增

强荧光光谱（TEFS）；SNOM光刻（矢量，光

栅）；在AFM/STM缺口处的光发射/吸收；偏

振显微镜

光学探测器

光电倍增器（VIS,IR）;带CCD镜头的光谱仪；

二极管（光子计数）

扫描和反馈机制

针尖扫描和样品扫描的范围（100X100μm）

高共振XYZ 的压电陶瓷管用于快速扫描（闭环

反馈）；平面压电驱动扫描平台

基于悬臂的激光偏转检测（VIS或者IR激光）；

音叉共振探测系统（剪切力或正交力模式）

其他特征：

方便升级和与拉曼/荧光光谱仪集成

自动调节激光点到SNOM悬臂开孔处

非常高效（数值孔径）激发/收集光信号

环境控制：温度，湿度，气氛，液体，磁场

可与倒置光学显微镜联用

*可能要求不同种类的探针，更换探针后，

样品检测范围精度保持在μm尺度