X-200 XRF 分析仪

主力军。 我们的 X-200 XRF 分析仪是高性能和极具吸引力的价格的完美结合。

X-200 提供的速度和性能可媲美或优于其他品牌的高端分析仪。 它使用性能一流的 SDD，结合高度优化的 X 射线管和探测器几何结构。 由于速度和分析性能与轻便、小尺寸设计相结合，X-200 正迅速成为废料处理和无损检测的首选。 它适用于包括铝合金在内的所有合金系列。 对于地球化学应用，它提供了用于环境、探路者、勘探和采矿的元素套件。 其他可用的应用程序包括环境土壤、RoHS、贵金属、汽车催化剂、涂料和 SciAps Empirical App，供想要测试其他类型材料并生成自己的校准模型的用户使用。 分析仪可以使用基本参数、康普顿归一化（EPA 方法 6200）或用户定义的经验校准进行工厂校准。

X射线管：40 kV，Rh 阳极（合金）或 50 kV Au 阳极（Geochem、Soil、RoHS 等）。

侦测率： 20 mm2 标准 SDD 和 DPP。 125k cps，> 90% 实时。

重量

3.3 磅（含电池）

激发源

用于合金测试的 6-40kV、200uA Rh 阳极，用于大多数其他应用的 6-50kV、200uA Au 阳极。

校准

基本参数。 对于地球化学和环境。 土壤应用程序，用户也可以选择“康普顿归一化”方法和/或使用经验派生的校准。

尺寸

7.25“x 10.5”x 4.5“

探测器

20mm2 硅漂移检测器（有源区），135eV 分辨率 FWHM，5.95Mn K-alpha 线。

校准检查

内部快门也是 316 不锈钢，用于全自动校准和能量标度验证。

功率

板载可充电锂离子电池，可在设备内部或使用外部充电器充电，交流电源，热插拔能力（最长 60 秒插拔时间）。

X 射线过滤

用于光束优化的 6 位滤光轮。

环境温度范围

10% 占空比时 130°F 至 25°F

屏 显：

5 英寸彩色触摸屏智能手机型显示屏 – PowerVR SGX540 3D 图形。

处理电子主机处理器

ARM Cortex -A9 双核/1.2GHz 内存：1GB DDR2 RAM，1GB NAND 结果存储：8GB SD

安保行业

密码保护使用（用户级别）和内部设置（管理员）。

通讯/数据传输

无线网络、蓝牙、USB。 连接到大多数设备，包括 SciAps Profile Builder PC 软件。

脉冲处理器

数字化速率为 14 MSPS 的 80 位 ADC 8K 通道 MCA USB 2.0 用于高速数据传输至主机处理器 在 FPGA 中实现数字滤波以实现高吞吐量脉冲处理 50nS – 24uS 峰值时间

监管

CE、RoHS、USFDA 注册、加拿大 RED 法案。