1  以下规格为IR-DF0X1系列防尘盖板，根据TOF传感器尺寸不同定型盖板的尺寸，基本结构一样，以意法半导体（ST）的TOF激光测距传感器为例，IR-DF011适配ST的                       VL53L0/VL53L3/VL53L4系列，IR-DF021适配ST的VL53L1系列，IR-DF031适配ST的VL53L5系列。

2 本产品为TOF激光测距传感器专门定的制红外光学盖片，采用自主研发的适用于850~930纳米专用的高性能高穿透的红外材料，特殊的光学结构设计，精密的光学加工， 与TOF    传感器配合，基本能够免疫盖片材料与结构所造成光学信号串扰，解决客户在不同应用场景下由于盖板表面的指纹印、脏污、灰尘、划伤、水渍等造成的光信号串扰，比较完美    呈现芯片的测距功能。

- IR-DF011防尘盖片进行了特殊的光学结构设计，模拟TOF传感器光路，对所可能产生的所有的光信号串扰的路径进行了遮挡。
- 产品的入光面的凹槽与芯片尺寸一致，可以直接卡进芯片。
- 产品入光面凹槽周围贴有背胶，可直接粘贴在PCB上，无须再进行另外安装处理。
- 出光面的光学开孔尺寸设计，进行了光学模拟，不会对传感器的FOI和FOV干涉。
- 光学面的下沉，提高了对实际应用场景的光学表面附着灰尘、水渍等的容忍度，实验显示，如果光学表面沉积的灰尘和水渍，不超过盖片中间突出的遮挡墙的高度或者没有覆盖    中间遮挡墙，从而不会产生新的光信号串扰路径，即使光学表面沉积有一定量的灰尘或者水渍，光信号串扰值也可达到0kcps。