● 设备高数字通道数超过 10000，可进行大数量并行测试

● 超低功耗设计，系统更加稳定

● 主要架构、系统技术和机械设计都是国内研发并生产

● 系统测试超过 50 个品牌、类型和容量的存储芯片（NOR NAND Flash）与逻辑芯片

● 逻辑测试近乎 100% 并行测试效益，单 Site 与多 Site 测试时间基本一致，同测数愈多、降本效益愈大

● 独特的 LAES 技术可以显著降低 Site 间干扰，提高多 Site 测试稳定性以及产品良率

● 系统自带在线 Calibration 功能，可保证测试精度以及稳定性（校准可在线进行）

● 系统支持动态老化、压力测试、FT 以及 Wafer 测试，一个平台支持所有测试类型

● 结合捷策创具备 Socket/Pin 和 PCB（Loadboard/Probecard）设计能力， 提供客户一站式（Turn-Key）服务，缩短项目导入量产测试时程并保证测试质量